Omron ha anunciado una nueva ampliación de su colaboración con Nvidia mediante la integración de tecnologías de Nvidia Omniverse y Nvidia Metropolis en sus soluciones de inspección para placas de circuito impreso. El objetivo es avanzar hacia procesos de inspección más automatizados, apoyados en inteligencia artificial y simulación física, para mejorar la calidad y la eficiencia en la fabricación de semiconductores.
La colaboración entre ambas compañías, iniciada en 2022, incorpora ahora nuevas capacidades que permiten combinar los sistemas de inspección óptica automatizada (AOI) y de inspección por rayos X 3D (AXI) de Omron con las bibliotecas de Omniverse. De este modo, la compañía busca aprovechar los gemelos digitales y la inteligencia artificial para optimizar los procesos de inspección y facilitar la toma de decisiones en planta.
La colaboración incorpora simulación física e inteligencia artificial a la inspección industrial
Uno de los aspectos más destacados de esta evolución es la posibilidad de reproducir digitalmente la deformación de las placas de circuito impreso provocada por el calor durante el proceso de fabricación. Gracias a la simulación basada en principios físicos que proporciona Omniverse, los fabricantes podrán visualizar estos cambios con mayor precisión y anticipar posibles defectos antes de que se produzcan.
La integración también permitirá combinar la información obtenida por los sistemas AOI y AXI dentro de un mismo entorno digital. Al superponer los datos de inspección superficial y los de la estructura interna de las placas, será posible identificar con mayor rapidez la causa de determinados defectos y obtener una visión más completa del proceso de fabricación.
Otra de las novedades anunciadas es la incorporación de agentes de inspección basados en inteligencia artificial mediante las tecnologías Nvidia Metropolis Blueprint for Video Search and Summarization (VSS) y Nvidia Cosmos. Estos asistentes podrán analizar imágenes de inspección junto con datos históricos para ayudar a identificar el origen de incidencias y ofrecer recomendaciones a los operarios mediante respuestas en lenguaje natural.
Según explica Omron, esta ampliación de la colaboración forma parte de su estrategia para integrar tecnologías de automatización e información industrial con el fin de aprovechar mejor los datos generados en las líneas de producción. La compañía también prevé extender el uso de gemelos digitales a procesos de inspección de placas de circuito impreso que requieren altos niveles de precisión.
La iniciativa se enmarca dentro de la hoja de ruta estratégica «SF 2nd Stage» de Omron, en la que la división de sistemas de inspección figura como una de las áreas de crecimiento prioritarias para impulsar la innovación en la industria de los semiconductores mediante el uso de inteligencia artificial física desarrollada junto a Nvidia.
Fuente: Omron.